Zref

Zref vous permet d'effectuer deux types de calculs à partir des mesures de diffraction cristal unique, afin de déterminer les paramètres de maille. Si vous avez centré réflexions en 8 positions sur le diffractomètre avec la commande zref dans le logiciel unique, les profils oméga finales sont stockées dans un fichier rfl. Les profils de réflexion stockées dans ce fichier peuvent ensuite être examinés par le programme WinIntegrStp, remontés automatiquement, et les positions des pics idéales et les paramètres cellulaires peuvent être déterminées. Si vous avez des problèmes avec la forme des pics, le processus automatisé va échouer. Si cela se produit, vous pouvez adapter et intégrer les pics à la main dans WinIntegrStp et enregistrer les positions ajustées dans un fichier de données ou int intégrée. Ensuite, lisez le fichier int à ce programme, où vous pouvez déterminer les positions des pics corrigées par la méthode à 8 positions, et d'affiner les paramètres de maille. Le programme sera également lire les fichiers générés par simple tapis de sorte que vous pouvez effectuer des moindres carrés sur la liste de pointe sans démarrer unique.